玻璃绝缘子“零值自爆”机理

一、制造过程中杂质与结瘤的影响

杂质分布：玻璃绝缘子在制造过程中，若玻璃体内含有杂质或结瘤，这些缺陷会破坏玻璃内部的应力平衡。特别是当杂质分布在内张力层时，会在较短时间（30~60天）内引发自爆，这通常被判定为制造原因的自爆。

应力集中：杂质周围容易形成张应力区，导致应力集中。这种应力集中现象在玻璃绝缘子受到外力或温差变化时，容易引发破裂。

二、运行过程中杂质与温差的作用

杂质分布变化：在运行过程中，若玻璃绝缘子中的杂质分布在外张力层，且遇到冷热温差状态（特别是突然冷却时），在稳定机械荷载下，会在1~2年内发生自爆，这通常被判定为运行状态下质量原因的自爆。

温差应力：玻璃的导热性能较差，当温度发生急剧变化时，内外层会产生较大的温差，进而引起收缩应力的差异。这种温差应力若超过玻璃绝缘子能承受的应力，就会引发自爆。

三、表面积污与局部放电的引发

积污严重：运行中钢化玻璃绝缘子若表面积污严重，受潮后会引起局部放电或单片爬电，导致发热和绝缘下降。

自爆判定：这种因积污和局部放电引发的自爆，通常被判定为零值自爆。它反映了玻璃绝缘子在恶劣环境下的性能劣化过程。